TriStar II 3020是全自动三站式比表面积和孔隙度分析仪,能够提高质量控制分析的检测速度,并提供高精度、高分辨率和数据处理功能以满足绝大多数研发的需要。
仪器用途
Tristar II3020分析仪可以进行材料比表面、孔径分布、孔体积等的测试(吸附质-液N2)。其中Tristar II 3020分析范围:材料比表面积 0.01m2/g至无上限,孔径分析范围1.0-300 nm。可测全吸附、脱附曲线、BET及 Langmuir比表面积、平均孔径和孔体积、BJH吸附/脱附曲线,中孔和大孔信息、中孔和大孔体积/面积对孔径分布。适用于各种材料的研究与产品测试,包括测量沸石,碳材料,分子筛,二氧化硅,氧化铝,土壤,黏土,有机金属化合物骨架结构等各种材料,其中材料比表面积与孔分布的测试大量应用于分子筛、活性炭等催化材料的表面物理性能研究,广泛应用于催化、环境、建筑领域。
技术特点
· 仪器可同时进行三个样品的分析,满足测试量大的用户,不是多个工作站的"排队分析",每个分析站都配有独立的传感器,保证三个分析站分析的同时进行
· 配备了大容量杜瓦瓶,结合专利的液氮等温夹,保证至少60小时无人介入操作。无上限的连续分析
· 仪器软件包含了目前所有的数据处理方法: 单点和多点BET比表面积,Langmuir比表面积 ,Temkin and Freundlich等温线分析
多种厚度层公示计算的BJH中孔和大孔的孔体积、孔面积对孔径的分布,孔体积和用户指定孔径范围内的总孔体积 MP法的微孔孔径分布和t-plots、αs-plots得到的微孔总孔体积,f-Ratio plots,D-R,D-A,H-K法(包括Cheng & Yang校正,Saito & Foley校正),DFT密度函数理论,包括NLDFT等。